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    雙目透反射金相顯微鏡

    簡要描述:透反射金相顯微鏡、金屬檢測顯微鏡、焊錫檢測顯微鏡、光刻板檢測、電極檢測,半導體硅片檢測,材料科學,地質礦物質 精密工程
    JX-BH200M 雙目透反射金相顯微鏡,JX-BH200MS三目透反射金相顯微鏡

    • 產品型號:JX-BH200M/JX-BH200MS
    • 更新時間:2023-10-09
    • 產品資料:

    JX-BH200M系列正置金相顯微鏡

    JX-BH200M 雙目透反射金相顯微鏡,JX-BH200MS三目透反射金相顯微鏡

    ■采用平場消色差光學系統和落射式柯拉照明系統,同時在落射照明系統中設計防反射結構,有效防止反射光干擾成像光線,從而使成像更清晰、視場襯度更好。

    ■提供穩定可靠的操作機構,使成像更清晰,操作更簡便。

    ■顯微鏡鏡體采用全新的人機工程學設計,結構勻稱,實現鏡體擴展積木化。

    ■工作臺、光強與粗微調的低位操作,提高了使用的舒適性。

    ■廣泛應用于各類半導體硅晶片檢測、材料科學研究、地質礦物分析及精密工程等學科領域。

    技術規格

    標有“(選配)"為選配,其他為標配!

    標配件已滿足使用要求,如需選配件請咨詢客服!


    光學系統

    有限遠色差校正光學系統

    觀察筒

    鉸鏈式雙目,30°傾斜,360°旋轉,瞳距調節范圍:54-75mm,雙邊±5屈光度可調;

    鉸鏈式三目,固定式分光比,雙目:三目=80%:20%

    目鏡

    PL10X高眼點平場目鏡,線視場 18mm

    物鏡

    長工作距平場消色差金相物鏡5X、10X、20X、50X、100X

    轉換器

    內定位四孔轉換器

    內定位五孔轉換器(選配)

    調焦機構

    粗微調同軸,帶機械上限位和松緊調節裝置, 粗調行程28mm,微調精度0.002mm

    載物臺

    雙層機械移動平臺,附設180X145mm平板平臺, 移動范圍:76mmX50mm

    照明系統

    反射式柯拉照明,自適應寬電壓90V-24V,6V/30W鹵素燈,光強連續可調,帶可變孔徑光闌與視場光闌,視場光闌中心可調

    攝影裝置

    攝影接筒(帶PK卡口),3.2X攝影目鏡

    攝像裝置

    0.35X/0.5X/1.0X  C型攝像接筒

    其他可選功能

    簡易偏光

    6V30W透射照明系統

    JX-BH200M 雙目透反射金相顯微鏡,JX-BH200MS三目透反射金相顯微鏡

    JX-BH200M 雙目透反射金相顯微鏡,JX-BH200MS三目透反射金相顯微鏡







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